Métodos Físicos em Ciência de Materiais - II
Métodos Físicos em Ciência de Materiais - II
RESPONSÁVEIS: Profs. Drs. Aparecido R. de Souza, Denílson Rabelo, Edésio F. C. Alcântara, Emília Celma de Oliveira Lima, Patrícia P. C. Sartoratto e Wilson Botter Júnior
CARGA HORÁRIA: 60 h - 04 Créditos
EMENTA: 1. Microscopia óptica 2. Microscopia eletrônica 3. Difração de raios-X 4. Princípios das técnicas, amostragem e aplicações na caracterização de materiais
CARGA HORÁRIA: 60 h - 04 Créditos
EMENTA: 1. Microscopia óptica 2. Microscopia eletrônica 3. Difração de raios-X 4. Princípios das técnicas, amostragem e aplicações na caracterização de materiais
BIBLIOGRAFIA:
[1] CHEETHAM, A K.; DAY, P. Solid State Chemistry. Oxford Science Publications. 1987.
[2] WENDLANT, W. W. Thermal Methods of Analysis, 2a edição -Interscience - 1974.
[3] HAINES, P. J., Thermal Methods of Analysis, Principles, Aplication and Problems - Champman e Hall - 1995.
[4] REIMER L. Scanning Electron Microscopy, Springer Series in Optical Sciences, 1985.
[5] HEIMENDAHL, M. V. Electron Microscopy of Materials: An Introduction. Acad. Press, 1981.
[6] AZÁROFF, L. V., BURGER, M. J. A Powder Method in X-ray Crystallography. McGraw-Hill, 1958.
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